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2017-09-27
+2019-09-23
+2019-04-23
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TFVT-1000型薄膜變溫電阻測試儀一款兼具薄膜和塊體（可擴(kuò)展）的測試各種薄膜材料在高溫、真空、氣氛條件下的電阻和電阻率，可以用來分析樣品的電阻率隨溫度變化曲線、電阻溫阻系數(shù)、樣品相變溫度點(diǎn)。而且可廣泛用于光電、鐵電、熱電等各種導(dǎo)電材料的電阻率測量。是目前科研和生產(chǎn)的重要材料測量設(shè)備。
四通道同屏對比測試高溫介電溫譜測量系統(tǒng)運(yùn)用三電極法設(shè)計原理測量，并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。采用Labview系統(tǒng)開發(fā)具備彈性的自定義功能，可進(jìn)行介電溫譜、頻譜、升溫速度、測量參數(shù)等設(shè)置，符合壓電陶瓷與其它新材料測試多樣化的需求。
GWST-1000型高溫四探針綜合測試系統(tǒng)（包含薄膜，塊體功能）是為了更方便的研究在高溫條件下的半導(dǎo)體的導(dǎo)電性能，該系統(tǒng)可以*實(shí)現(xiàn)在高溫、真空及惰性氣氛條件下測量硅、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率和外延層、擴(kuò)散層和離子層的方塊電阻及測量其他方塊電阻。
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