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2026-01-30
+2019-07-23
+2024-03-04
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熱釋電性能測試儀 aixPYM (Pyroelectric Measurement) 本系統(tǒng)主要用于薄膜及塊體材料變溫的熱釋電性能測試。 薄膜材料變溫范圍：-196℃到+600℃； 塊體材料變溫范圍：室溫到200℃、室溫到600℃、室溫到800℃、-100℃到+600℃、-184℃到+315℃五種夾具可選。
熱激發(fā)極化電流測試儀 TSDC (Thermally Stimulated Depolarization Current Measurement) 本系統(tǒng)除了可以測試材料的鐵電、壓電、熱釋電性能外，還可以用于測試材料的熱激發(fā)極化電流TSDC (Thermally Stimulated Depolarization Current Measurement)。
熱電性能測試儀 COMTESSE (Thermoelectric Measurement) 本系統(tǒng)主要用于熱電性能測試。 包括：熱導(dǎo)率thermal conductivity, 電導(dǎo)率electrical conductivity, 塞貝克系數(shù)Seebeck-Coefficient, Harman ZT等隨溫度的變化。
機(jī)電薄膜e31測試儀 aix4PB (Electromechanical thin film e31 analyzer ) 薄膜材料的機(jī)電性能是MEMS器件設(shè)計的關(guān)鍵性能，縱向壓電系數(shù)d33和橫向壓電系數(shù)e31被用于表征傳感器和執(zhí)行器的這些關(guān)鍵性能。 縱向壓電系數(shù)可由aixDBLI測試，而橫向壓電系數(shù)e31就可用aix4PB系統(tǒng)測試。 通過必要夾具，可以測得正向e31和逆向e31。
高溫塊體壓電分析儀 aixPES-600/800 本系統(tǒng)主要用于高溫下的壓電塊體陶瓷樣品的全面電性能和機(jī)電性能的表征。 壓電測試溫度可以達(dá)到室溫到600℃或室溫到800℃兩種溫度范圍。 大信號和小信號材料的特征可以在一定溫度范圍內(nèi)表征。樣品上的電流響應(yīng)測量是通過精確的虛擬接地方法衡量電壓激勵信號。樣品的微位移同時通過激光干涉儀進(jìn)行測量。
多鐵材料磁電磁阻測試儀 aixPES-MR (MagnetoResistive Measurement) 本系統(tǒng)主要用于研究磁阻和鐵性材料。 本系統(tǒng)提供連續(xù)電流激勵和測試，樣品上的電壓降通過高精度四點測試。
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