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2026-04-21
+2024-11-25
+2024-11-11
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壓電材料測試儀（準(zhǔn)靜態(tài)d33/d31（+d15）測量儀）是為測量壓電材料的d33常數(shù)而設(shè)計的儀器，它可用來測量具有大壓電常數(shù)的壓電陶瓷，小壓電常數(shù)的壓電單晶及壓電高分子材料。此外，也可測量任意取向壓電單晶以及某些壓電器件的等效壓電d33/d15常數(shù)，儀器測量范圍寬，分辨率細(xì)，可靠性高，操作簡單。
粉末材料電阻率測試儀是運(yùn)用四端子法或四探針法測試粉末電阻率的測量儀器，該儀器采用通用的電流、電壓四端子測量法（儀器電流源和電壓表兩個單元分別從獨(dú)立回路連至電極同時和樣品接觸），可以消除電極與連接導(dǎo)線導(dǎo)通電阻產(chǎn)生的誤差，克服了傳統(tǒng)的二端法測量粉末電阻率儀器的弊病，可以真實(shí)地、準(zhǔn)確地測量出粉末樣品的電阻率，因此重復(fù)性也好。
ZJ-3壓電材料測試儀（靜壓電系數(shù)d33測量儀）是為測量壓電材料的d33常數(shù)而設(shè)計的儀器，它可用來測量具有大壓電常數(shù)的壓電陶瓷，小壓電常數(shù)的壓電單晶及壓電高分子材料。
高溫介電溫譜測試儀主要應(yīng)用于高溫下材料的介電性能測試與分析，包括介電常數(shù)、介電損耗、電容等參數(shù)，同時測試出測試材料的其他阻抗參數(shù)，廣泛應(yīng)用于陶瓷材料、半導(dǎo)體器件及功能薄膜材料等研究 。
JKZC-JD01高頻絕緣材料介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試系統(tǒng)由測試裝置（夾具）、型高頻主機(jī)、數(shù)據(jù)采集和tanδ自動測量控件及校準(zhǔn)電感器組成。依據(jù)國標(biāo)GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美標(biāo)ASTM D150以及國際電工委員會IEC60250的規(guī)定設(shè)計制作。系統(tǒng)提供了絕緣材料的高頻介質(zhì)損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε)自動測量的解決方案。本儀器中測試裝置是由平板電容器組成，平
HTIM-1001型高溫絕緣電阻測試儀根據(jù)歐姆定律，被測電阻Rx等于施加電壓V除以通過的電流I。傳統(tǒng)的高阻計的工作原理是測量電壓V固定，通過測量流過取樣電阻的電流I來得到電阻值。從歐姆定律可以看出，由于電流I是與電阻成反比，而不是成正比，所以電阻的顯示值是非線性的，即電阻無窮大時，電流為零，即表頭的零位處是∞，其附近的刻度非常密，分辨率很低。整個刻度是非線性的。又由于測量不同的電阻時，其電壓V也
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