中科院上海微系統(tǒng)所定制JKZC-LRT400冷熱臺(tái)成功交付

中國科學(xué)院上海微系統(tǒng)與信息技術(shù)研究所是我國著名的技術(shù)學(xué)科綜合性研究所之一，前身是成立于1928年的國立中央研究院工程研究所。自建國以來，上海微系統(tǒng)所已獲得獎(jiǎng)勵(lì)46項(xiàng)、部委省級(jí)獎(jiǎng)勵(lì)340余項(xiàng)。為國民經(jīng)濟(jì)發(fā)展、國家安全和社會(huì)進(jìn)步做出了重大貢獻(xiàn)。

本次交付的產(chǎn)品為探針冷熱臺(tái)JKZC-LRT400，該冷熱臺(tái)在實(shí)驗(yàn)中主要用于高阻材料在不同溫度變化下的電學(xué)測(cè)試。

   現(xiàn)場(chǎng)交付圖

能提供從-190℃到600℃溫度范圍內(nèi)的精準(zhǔn)控制。

   現(xiàn)場(chǎng)實(shí)驗(yàn)測(cè)試變溫電阻測(cè)試數(shù)據(jù)（二）

測(cè)試樣品為高阻材料，實(shí)驗(yàn)顯示隨溫度升高，材料電阻在高溫下驟降。在本次交付中，針對(duì)客戶需求，對(duì)配套軟件進(jìn)行了定制。

包含兩種測(cè)試模式：

①RT測(cè)試：樣品電阻隨溫度變化；

②數(shù)據(jù)時(shí)間譜測(cè)試：到達(dá)設(shè)定溫度后，樣品電阻隨時(shí)間變化。